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日本KETT LZ-200J兩用膜厚計

日本KETT LZ-200J兩用膜厚計

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  • 品   牌:日本KETT
  • 簡   介: 日本KETT LZ-200J兩用膜厚計采用電磁和渦流兩種測量模式,精度達2%,測量1500μm內(nèi)的磁性金屬底材涂層或800μm內(nèi)的非磁性金屬上涂層。

日本KETT LZ-200J兩用膜厚計采用電磁和渦流兩種測量模式,精度達2%,測量1500μm內(nèi)的磁性金屬底材涂層或800μm內(nèi)的非磁性金屬上涂層。


日本KETT LZ-200J兩用膜厚計產(chǎn)品簡介:

LZ-200J采用電磁和渦流兩種測量模式,可無損檢測磁性金屬上非磁性覆層厚度及非磁性金屬上絕緣層厚度,內(nèi)置打印機、有統(tǒng)計儲存、連接電腦等功能,對微小厚度的涂鍍層測量有較高的準確度。本產(chǎn)品廣泛用于汽車制造、船舶制造、金屬加工等各領(lǐng)域行業(yè)。

日本KETT LZ-200J兩用膜厚計1.png

儀器參數(shù)

日本KETT LZ-200J兩用膜厚計技術(shù)參數(shù):

測定方法:電磁誘導式+渦電流式

測定對象:磁性金屬上的非磁性薄膜及非磁性金屬上的絕緣膜

測量范圍:

電磁式:0~1500μm或60.00 mils

渦流式:0~800μm或32.00 mils

測量精度:

電磁式:<15μm±0.3μm ≥15μm±2%

渦流式:<50μm±1μm ≥50μm±2%

測試面積: 3*3mm

測試單位:公/英制

分辨率: ≤100μm0.1μm ≥100μm1.0μm

統(tǒng)計功能: 測試次數(shù)、較大/較小值、平均值、標準偏差

顯示方式:LED數(shù)顯

探針:一點接觸恒壓式(LEP - J,LHP - J)

外部輸出: RS-232C接口(傳送速度2400 bps)

尺寸、質(zhì)量: 120(W)×250(D)×55(H)毫米,1000g

附件: 探頭/基體/校正標準片/電池/V型塊/變壓器/皮套/合格證/說明書

附加功能:內(nèi)置打印功能、儲存統(tǒng)計功能、連接電腦功能(RS232標準接口)

界限設(shè)定:可設(shè)定上/下限

電源:電源AC 100V(50 / 60Hz)或電池1.5 V(單3堿)



日本KETT LZ-200J兩用膜厚計