日本KETT LE-200J膜厚計(jì)技術(shù)參數(shù)：

測(cè)試方法：電磁感應(yīng)

應(yīng)用：磁性基材(鐵或鋼)上的非磁性涂鍍層

測(cè)試范圍：0-1500 μm或60.00mils

測(cè)試精度：<15μm: ±0.3μm, ≥15μm:±2%

分辨率：0.1μm (<100μm), 1.0μm (≥100μm)

符合標(biāo)準(zhǔn)：JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5

統(tǒng)計(jì)功能：測(cè)試次數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差、較大值、較小值、批號(hào)

測(cè)試探頭：點(diǎn)觸式(LEP-J)

顯示方式：LCD數(shù)字顯示器，帶背光

輸出功能：RS-232C接口(傳輸速度：2400bps)

供電電壓：1.5 ("AA" 堿性電池) x 6 (主機(jī)), 打印機(jī) ("AA" 堿性電池) x 4

大小重量：120(W)X250(D)X55(H)mm, Net 1.0kg