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德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀采用手動或自動方式,測量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀應(yīng)用領(lǐng)域:
大批量電鍍件測量
防腐和裝飾性鍍層,如鎳或銅上鍍鉻
電鍍行業(yè)槽液分析
線路板行業(yè)如薄金,鉑和鎳鍍層的策略
測量接插件和觸點的鍍層
電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測量
黃金,珠寶和手表行業(yè)
德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀技術(shù)參數(shù):
1、工作臺:
設(shè)計:馬達驅(qū)動可編程X/Y平臺
移動范圍:255x 235mm
X/Y平臺移動速度:≤80 mm/s
X/Y平臺移動重復(fù)精度:≤0.01 mm,單向
可用樣品放置區(qū)域:300 x 350mm
Z軸:可編程運行
Z軸移動范圍:140mm
樣品:重量5kg,降低精度可達20kg
樣品:高度140mm
2、環(huán)境要求:
使用時溫度:10℃- 40℃
存儲或運輸溫度:0℃ - 50℃
空氣相對濕度:≤95%,無結(jié)露
3、計算單元:
計算機:帶擴展卡的計算機系統(tǒng)
軟件:標準:WinFTM V.6 LIGHT、可選:WinFTM V.6 BASIC,PDM,SUPER
4、執(zhí)行標準:
CE合格標準:EN 61010
X射線標準:DIN ISO 3497和ASTM B 568
型式批準:型式許可符合德國"Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)規(guī)定。
5、通用規(guī)格:
設(shè)計用途:能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(EDXRF)用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu),分析合金和微量組分。
元素范圍:從元素氯(17)到鈾(92),配有可選的WinFTM BASIC軟件時,可同時測定24種元素。
形式設(shè)計:臺式儀器,測量門向上開啟
測量方向:從上到下
6、X射線探測:
X射線接收器:比例接收器
測量距離:0 ~ 80mm,使用專有保護的DCM測量距離補償法
7、視頻系統(tǒng):
視頻系統(tǒng):
CCD彩色攝像頭,沿著初級×射線光束方向觀察測量位置對被測工件進行監(jiān)控,可自動對焦或手動聚焦
十字線(帶有經(jīng)過校準的刻度和測量點尺寸)可調(diào)節(jié)亮度的LED照明,激光光點用于定位樣品
放大倍數(shù):40x-160x
8、電氣參數(shù):
電源要求:交流220v 50Hz
功率:120W(不包括計算機)
保護等級:IP40
9、尺寸規(guī)格:
外部尺寸:寬×深×高[mm]:570 x760 x 650
內(nèi)部測量室尺寸:寬×深×高[mm]: 460 x 495 x 146
重量:120kg
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