日本KETT LW-990膜厚計(jì)測試臺(tái)人工測量誤差減小，對測量管狀物很有效。

日本KETT LW-990膜厚計(jì)測試臺(tái)產(chǎn)品簡介：

LW-990是通過將膜厚計(jì)探針或厚度計(jì)的升降部的整體式膜厚計(jì)安裝于LW-990中，由于膜厚度測量儀的測里開始與測童對象接觸--恒定的力和角度，人工測量誤差減小，并且可以以高的重復(fù)精度測量來執(zhí)行。如要測量的管狀物，這是特別有效的。探針的膜厚計(jì)型，和支持雙式膜厚計(jì)的LZ-990相對應(yīng)。